现代电子技术

2018, v.41;No.511(08) 41-44+48

[打印本页] [关闭]
本期目录(Current Issue) | 过刊浏览(Archive) | 高级检索(Advanced Search)

一种用于近场EMI测量的光电式可调频率探头
A photoelectric tunable frequency probe for near-field EMI measurement

宋涛,李伶研,高振斌,花中秋

摘要(Abstract):

现如今印刷电路板(PCB)和电子设备的近场电磁干扰的精确测量是必不可少的。光电式探头可为近场测量提供较好的解决方案,通过结合覆铜箔层压板和电子组件、带状线嵌入到PCB基板的设计,并得到一个特定的频率响应。然而,考虑到空间电磁干扰以及从电源到探头的高频谐波干扰,提出一种光电式电源使得电源可调。模拟和分析了一种带状线结构,通过改变位于带状线和覆铜板间的贴片电容的电容值,得到三个固定谐振频率点分别位于327.046 MHz,1.699 GHz和2.439 GHz。

关键词(KeyWords): PCB;近场EMI;带状线;光电式探头;电子设备;覆铜箔层压板

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation): 河北省教育厅青年基金项目(QN2015057);; 天津自然科学基金项目(15JCYBJC52100)~~

作者(Author): 宋涛,李伶研,高振斌,花中秋

DOI: 10.16652/j.issn.1004-373x.2018.08.011

参考文献(References):

扩展功能
本文信息
服务与反馈
本文关键词相关文章
本文作者相关文章
中国知网
分享