邓成,张亚妮,白璘,孙肖子

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摘要(Abstract)：

设计和验证超高密度FPGA的方法是采用逻辑分析仪、示波器和总线分析仪,通过测试头和连接器把信号送到仪器上。随着FPGA设计复杂度的增加,传统的测试方法受到局限。在FPGA内部嵌入逻辑分析核,构成一种嵌入式逻辑分析仪,对FPGA器件内部所有的信号和节点进行测试,这一方法同样可以达到FPGA开发中硬件调试的要求,并且具有无干扰、便于升级和使用方便等优点。SignalTapⅡ正是这样一种嵌入式逻辑分析仪,本文详细介绍了其在调试FPGA时的具体方法和步骤。

关键词(KeyWords)： 嵌入式;逻辑分析仪;FPGA;SignalTapⅡ

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation):

作者(Author): 邓成,张亚妮,白璘,孙肖子

参考文献(References)：

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