SoC中混合信号的测试Test of Mixed Signal in SoC
刘全喜,何怡刚,刘美容,彭浴辉
摘要(Abstract)：
随着经济社会的发展,人们对消费类电子的多媒体功能要求越来越高;这极大促进了SoC中混合信号工艺的运用,但是随之而来的是SoC在测试上遇到了前所未有的难题,因为混合信号电路的集成使他不同于纯数字电路IC的测试。SoC中混合信号的测试是SoC进一步发展的瓶颈,这对研究提出了紧迫的要求。介绍SoC中混合信号测试面临的主要问题,着重讨论了混合信号边界扫描测试,内置自测试方法(BIST)等测试手段及各自的特点。展望了SoC混合信号测试的研究方向。
关键词(KeyWords)： SoC;混合信号;扫描测试;内置自测试
基金项目(Foundation): 教育部新世纪优秀人才支持计划;; 湖南省杰出青年基金(03JJY1010);; 高校博士点基金(20020532016);; 湖南省科技计划项目(03GKY3115、04FJ2003、05GK2005);; 湖南大学撷英计划资助
作者(Author): 刘全喜,何怡刚,刘美容,彭浴辉
参考文献(References)：
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