两相邻耦合RC互连的串扰效应及其抑制Effect and Control of Crosstalk between Two Neighboring Coupled RC Interconnects
赵建娇,曹占杰,李学东
摘要(Abstract)：
随着微电子技术的进步,集成电路的特征尺寸逐步缩小,IC设计已经向着深亚微米甚至超深亚微米设计发展,一系列由于互连线引起的信号完整性问题需要设计者更多的考虑,互连线串扰已经成为影响IC设计成功与否的一个重要因素。针对串扰这一问题本文讨论了串扰对于电路的影响,分析了深亚微米集成电路设计中对两相邻耦合RC互连串扰的成因,介绍了互连线R,C参数的提取。以反相器驱动源和容性负载为例,建立了两相邻等长平行互连线的10阶互连模型,并且针对该模型,利用Cadence软件进行仿真,分析了引起串扰的因素。在此基础上,最后给出了有效抑制串扰的方法。
关键词(KeyWords)： 串扰;信号完整性;互连;集成电路
基金项目(Foundation):
作者(Author): 赵建娇,曹占杰,李学东
参考文献(References)：
- [1]Chandrakasan A P,Allmon R,Stratakos A,et al.Design ofPortable Systems[A].IEEE CICC[C].San Diego:IEEE.1994:259 266.
- [2]Sakurai T.Closed form Expressions for InterconnectionDelay,Couplingand Crosstalk in VLSIs[J].IEEE Trans.onED,1993,40(1):118 124.
- [3]Vittal A,Marek Sadowska M.Crosstalk Reduction for VL-SI[J].IEEE Trans.on CAD,1997,15(3):290 298.
- [4]Becer M R,Blaauw D,Zolotov V,et al.Analysis of Noise A-voidance Techniques in DSM Interconnects Using a Com-plete Crosstalk Noise Model[A].DATE[C].Paris:IEEE,2002:456 463.
- [5]Cong J,Zhingang D,Srinivas P V.Improved Crosstalk Mod-eling for Noise Constrained Interconnect Optimization[A].ASP/DAC[C].Yokohama:IEEE,2001:373 378.
- [6]Becer M R,Blaauw D,Zolotov V,et al.Analysis of Noise A-voidance Techniques in DSM Interconnects Using a Com-plete Crosstalk Noise Model[A].DATE[C].Paris:IEEE,2002:456 463.
- [7]马剑武,陈书明,孙永节.深亚微米集成电路设计中串扰分析与解决方法[J].计算机工程与科学,2005,27(4):102 104.
- [8]Delorme N,Belleville M,et al.Inductance and CapacitanceAnalytic Formulas for VLSI Interconnects[J].ElectronicsLetters,1996,32(11):996 997.