现代电子技术

2006, (22) 9-11

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基于AVR ATmega169的张力检测仪设计
Design of Strain Gauge Based on AVR ATmega169

王海棠,黄琦兰

摘要(Abstract):

分析应变测量原理,应用应变片敏感栅作为传感器,结合仪表放大器电路和高集成度的单片机ATmega169实现低功耗便携式张力测试仪的设计。该系统功耗低、测量准确、直接数字读出,具有多种附加功能。成功解决了由经验判断引起的偏误过大问题。给出在实际应用中硬件电路和软件程序的实现方案。分析设计中常见的问题,并给出解决问题的思路。对相关的测量仪表设计、开发有一定参考作用。

关键词(KeyWords): AVR;ATmega169;应变计;仪表放大器

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation):

作者(Author): 王海棠,黄琦兰

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